超聲波探傷儀試塊的種類及用途

在超聲波探傷儀檢測中，常常采用與已知量相比較的方法來確定被檢物的狀況。例如在射線探傷中，是以透度計的影像來作為比較的依據(jù)。超聲波探傷中是以試塊作為比較的依據(jù)。試塊上有各種已知的特征，例如特定的尺寸，規(guī)定的人工缺陷，即某一尺寸的平底孔、橫通孔、凹槽等。用試塊作為調(diào)節(jié)儀器、定量缺陷的參考依據(jù)，是超聲波探傷的一個特定。超聲波探傷的發(fā)展，已知與試塊的研制、使用分不開。

超聲波探傷儀試塊的用途

確定合適的探傷方法：在超聲波探傷中，可以應用在某個部位有某種人工缺陷的試塊來摸索探傷。在這種試塊上摸到的探傷規(guī)律和方法，可應用到與試塊同材質(zhì)。同形狀。同尺寸的工件探傷中去。

確定探傷靈敏度和評價缺陷大小：對于不同種類，不同厚度、不同要求的工件，需要不同的探傷靈敏度。為了確定探傷時的靈敏度，就需要帶有各種人工缺陷的試塊。用人工缺陷的波高來表示探傷靈敏度。這是試塊常用的一種方法。為了評價工件中某一深度缺陷大小，用試塊中同一深度各種尺寸的人工缺陷與之相比較，這就是探傷中應用的缺陷當量法。

效驗儀器和測試探頭性能：通過試塊可以測試儀器聲或探頭的性能，以及儀器和探頭鏈接在儀器的系統(tǒng)綜合性能。

超聲波探傷儀試塊的種類

根據(jù)試塊的用途，試塊可以分為三大類：

1、調(diào)節(jié)儀器及測試探頭的試塊，如CSK-IA試塊。

2、縱波探傷用試塊，人工缺陷為平底孔。

3、橫波探傷用試塊，人工缺陷為橫孔，如JB/T4730標準中規(guī)定的CSK-ⅡA和ⅢA試塊。